职位描述
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职责描述:
1.负责产品从研发到量产芯片级测试数据收集,产品的NTO debug, yield road map; 量产良率维护;
2.负责产品良率相关异常分析,通过数据分析,电性验证和FA等手法,找到根因,推动工艺改善和设计优化;
3.负责响应客户关于后段测试和验证中发现的问题,拉通内部工程分析,找到根因推动改善措施和解决方案;
4, 负责内部外部所需日常良率报表,定期的良率报告。
任职要求:
1.本科及以上学历,理工科相关专业;
2.良好的跨部门合作以及客户沟通意识与能力
工作地点
地址:武汉江夏区武汉-江夏区武汉新芯集成电路制造有限公司(高新四路)
![](http://img.jrzp.com/jrzpfile/rcw/SearchJob/images/jg.png)
![](https://img.jrzp.com/images_server/comm/nan.png)
职位发布者
HR
武汉新芯集成电路制造有限公司
![](http://img.jrzp.com/jrzpfile/provincercw/images/sfrz_yrz.png)
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电子技术·半导体·集成电路
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1000人以上
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公司性质未知
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武汉市东湖新技术开发区高新四路18号