职位描述
该职位还未进行加V认证,请仔细了解后再进行投递!
1. 根据芯片设计方案和IP特性制定相应test plan;
2. 根据芯片测试方案完成Loadboard,Socket,Probe card等ATE测试硬件设计与制造;
4. 与IC设计和DFT团队配合完成CP/FT测试程序开发及调试;
5. 编写CHAR测试程序,解决全温度Char fail 问题,负责完成芯片全特征数据收集分析工作;
6. 负责新产品的NPI导入和测试程序优化,TTR,良率提升;
7. 配合完成芯片可靠性测试实验的相关工作;
8. 针对芯片量产过程中遇到low yield问题对production lot进行相应处理。
任职要求:
1. 大学本科及以上学历,微电子,电子,半导体相关理工科专业;
2. 5年以上芯片测试程序开发和量产相关工作经验;
3. 具有V93K SMT7经验,拥有Ultra-flex/J750等测试平台经验更好;
4. 熟悉芯片的基本测试原理和DFT基本测试原理,能够结合设计方案和芯片测试需求,完成ATE测试相关问题的troubleshooting;
5. 熟悉C、C 、VB、Perl等编程语言;
6. 具有良好的沟通能力、分析问题能力和较强的协调能力,以及团队合作意识。
工作地点
地址:上海闵行区上海-闵行区漕河泾浦江科技广场17号楼
![](http://img.jrzp.com/jrzpfile/rcw/SearchJob/images/jg.png)
![](https://img.jrzp.com/images_server/comm/nan.png)
职位发布者
HR
广州思信电子科技有限公司
![](http://img.jrzp.com/jrzpfile/provincercw/images/sfrz_yrz.png)
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电子技术·半导体·集成电路
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200-499人
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公司性质未知
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上海张江高科技园区祖冲之路2305号b幢610室